微分干涉显微镜的基本原理与应用

微分干涉显微镜的基本原理与应用

微分干涉显微镜，大多为LCD领域TFT夹层玻璃COG导电性颗粒压印查验，及其6英尺及以下集成电路单晶硅片在线检查和实验室分析，具备显像清楚，工作距离长，应用便捷。

微分干涉显微镜要以平面图偏振为灯源，光源经三棱镜映射后分为两束，在不同时期通过样品邻近位置，再经过另一三棱镜把这两束光汇聚，进而样本中薄厚里的细微区别便会转换成明暗度差别，增强了试品差距，导致了标本的人为因素三维层次感，相近天然大理石里的浮雕图案。

微分干涉显微镜主要是用于鉴定和剖析金属内部构造机构，是金属学研究金相分析的主要仪器设备，是行业评定产品品质的关键设备，专门用来观查金属和矿物质忍不透明物体合金成分的微分干涉显微镜。

这些不透明物体不能在普通透射光显微镜中观查，故微分干涉显微镜与普通显微镜的重要差别在于前面一种以折射光，后者以透射光照明灯具。

不但可以辨别与分析各种各样金属、合金制品、非金属化学物质的组织结构及集成电路、微颗粒、线缆、化学纤维、表面喷漆等一些表面情况，微分干涉显微镜还能够广泛地应用于电子器件、化工和仪器仪表行业观查不透明物质透明色化学物质。

如金属、瓷器、集成电路、电子装置、印刷线路板、液晶板、塑料薄膜、粉末状、炭粉、线缆、化学纤维、镀镀层及其他非金属材在微分干涉显微镜中照明灯具光线从目镜方位射入被位置与方向表面，被物面散射后再回到目镜显像。

但是用微分干涉显微镜来验证剖析金属内部结构的组织结构在工业生产中是十分重要的。它拥有非常广泛的适用空间。